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X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀XANES主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結構、化學態及配位環境的強有力工具，為理解構效關系、優化材料設計提供直接依據。

配位結構表征是化學領域中用于描述和定義配位化合物空間結構和特性的重要手段。它涉及對配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩定性的詳細分析。

CT型真空紫外光譜儀 極紫外光源，采?Czerny-Turner光學結構，可以在空間上將復?光分成?系列單?光，系統由平?衍射光柵、前后準直聚焦鏡及CCD探測器組成。

CT型真空紫外光譜儀 探測器研究，采?Czerny-Turner光學結構，可以在空間上將復?光分成?系列單?光，系統由平?衍射光柵、前后準直聚焦鏡及CCD探測器組成。